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全自动芯片四面表观检测设备

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全自动芯片四面表观检测设备

重要利用于光通讯、高功率激光芯片等单芯片表观检测 ；检测缺点类型：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;

AOI-LD420机型是针对激光芯片表观查抄所开发的高精度镜检系统，利用于Chip晶粒造程中的缺点查抄，节俭人力，提升造程的品质不变性。本系统基于精密活动和减震平台，搭载纳米级光学系统，主题视觉系统选取传统算法和AI算法结合，实现芯片取放，AR面/HR面/P面/N面的查抄，鉴别芯片编号和关联对应输出缺点信息;

产品征询电话：13811928592（毛总）
产品征询邮箱：jian.mao@incubecn.com

  • 易操作，急剧建模，类似产品可自动天生模板

  • 基于深度进建的缺点检测+传统算法辅助，参数可自由设定卡控

  • 支持离线复判，支持报表订造批改

  • 可实现不破膜取料，降低产品危险率

  • 可实现订造吸嘴，减幼压感冒险

  • 纳米级高精度光学检测平台

  • 定造镜头，支持选配幽微解理纹专项检测

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